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介電常數測量儀/介質損耗測試儀

簡要描述:ZJD-A介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-08-17
  • 訪  問  量:1955

詳細介紹

品牌AIRTIMES/中航時代

 

 

 

 

 

 

 

 
     -A介電常數介質損耗測試儀技術參數

    1 Q值測量范圍:5~999

    Q值量程分檔:30、100、300、999、自動換檔或手動換擋

    誤差:25kHz~10MHz   ≤5%±滿度值的2%

    10MHz~50MHz  ≤7%±滿度值的2%

    2 電感測量范圍:0.1μH~1H  分七個量程

    3 電容測量范圍:1PF~460PF

    主電容調節范圍:40PF~500 PF

    準確度:150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微調電容調節范圍:-3PF~0PF~+3PF

    準確度:±0.2PF

    4 頻率覆蓋范圍:25 kHz~50MHz 分七段

    指示誤差:2×10-4±2個字

    5 電源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 環境溫度:(0~+40)℃

    7 相對濕度:RH<80%

    8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm

    9 重量:約7kg

    -B介電常數介質損耗測試儀技術參數
 

信號源頻率范圍 DDS數字合成 10KHz-60MHz Q測量范圍 1-1000自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比 6000:01:00 Q分辨率 4位有效數,分辨率0.1
信號源頻率精度 3X10 -5 ±1個字,6位有效數 Q測量工作誤差 <5%
電感測量范圍 15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH 調諧電容 主電容30-500PF
電感測量誤差 <5% 調諧電容誤差和分辨率 ±1.5P或<1%
標準測量頻點 全波段任意頻率下均可測試 Q合格預置范圍 5-1000聲光提示
諧振點搜索 自動掃描 Q量程切換 自動/手動
諧振指針 LCD顯示 LCD顯示參數 F,L,C,Q,波段等

    -C介電常數介質損耗測試儀技術參數


主要技術特性
Q 值測量范圍 2~1023,量程分檔:30 、100、300、1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差 ≤5%±滿度值的2%(200kHz~10MHz),≤6%±滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差 ≤7%±滿度值的2%(200kHz ~ 10MHz),≤8%±滿度值的2%(10MHz~160MHz_
電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
主電容調節范圍 18 ~ 220pF
主電容調節準確度 120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段(虛擬) 100~999.999kHz,1~9.99999MHz,10~99.9999MHz,100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個字

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術:

    1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

    2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

    3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。

    4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。

    7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計,無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質,無須關注量程和換算單位。

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